出席ISTAI‘2014会议的注册代表133人，特邀代表23人，包括来自美国、英国、法国、日本、奥地利、孟加拉、瑞士和中国等8个国家和地区的约160人（其中外宾13人）参加了会议。大会主席北京信

    2014年9月23-25日,第五届国际测试自动化与仪器仪表学术会议（ISTAI’2014）在北京京瑞国际大酒店召开。

    ISTAI是由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学联合主办，中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会承办的系列国际专业学术交流会议，每两年举办一届，本届大赛得到了中国国家自然科学基金委员会、北京市外国专家局、美国计算机测量协会、美国硅谷科技协会、北京遥感设备研究所以及《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、《电子测量技术》、《国外电子测量技术》、中国仪器与测量网等媒体的大力支持。

图1 参会代表合影

    出席ISTAI‘2014会议的注册代表133人，特邀代表23人，包括来自美国、英国、法国、日本、奥地利、孟加拉、瑞士和中国等8个国家和地区的约160人（其中外宾13人）参加了会议。大会主席北京信息科技大学柳贡慧校长致开幕辞，中国仪器仪表学会秘书长朱显峰致辞预祝大会圆满召开。清华大学王雪教授、日本福井大学 Kouki Nagamune教授、北京信息科技大学徐小力教授、瑞士苏黎世大学Michael Oppitz教授、奥地利维也纳大学Alban von Stockhausen博士、北京师范大学虚拟现实与可视化技术研究室周明全教授分别在全体会议上作了主题报告；40余名代表分别在4个分会场进行现场技术报告交流。110篇论文作者进行张贴交流。本届会议共收到来稿300余篇，经技术程序委员会专家审阅，终录用了其中118篇编入大会论文集共2册，计664页，由“图书出版公司”出版发行。